Ученые ТГУ создают метод выявления дефектов в синтетических кристаллах
Ученые, занимающиеся в Томском университете, начали разрабатывать новый метод определения дефектов в синтетических кристаллах, которые нужны для лазерных устройств в области обороны и медицины. Об сообщает пресс-служба ВУЗа.
Исследователи занимаются разработкой способа, с помощью которого они смогут определить дефекты. Они надеются найти ответ на свой вопрос в течение трех лет. На это госзадание было выделено финансирование в размере 30 миллионов рублей.
По словам ученых, при производстве синтетических кристаллов появляются дефекты внутри и на поверхности. Таким образом, если внешние недостатки можно устранить, обработав поверхность, то с внутренними справиться пока невозможно. Кроме того, на непрозрачном кристалле их тяжелее обнаружить. Руководитель лаборатории радиофизических и оптических методов изучения окружающей среды заявляет, что наличие внутри кристалла недостатков определяет его пригодность к использованию.
