Samsung разработал «мозги» будущих Volkswagen
Компания Samsung представила два новых чипа для «подключенных» автомобилей и мультимедийных систем следующего поколения: Exynos Auto T5123 и Exynos Auto V7. Оба используют вычислительные ядра ARM и оперативную память типа LPDDR4x с низким энергопотреблением - и уже запущены в массовое производство. Чип Exynos Auto V7, например, будут ставить в бортовые серверы приложений (ICAS) Volkswagen, разработанные подразделением Vehicle Component Solutions компании LG Electronics.
Чип Exynos Auto T5123 - это телематический блок управления с поддержкой сетей 5G в режимах SA (автономный, без использования элементов сетей связи предыдущего поколения) и NSA (неавтономный, с использованием опорных элементов сетей 4G), обеспечивающий загрузку данных со скоростью до 5,1 гигабита в секунду. Он оснащен двумя вычислительными ядрами ARM Cortex-A55, оперативной памятью LPDDR4x, спутниковым приемником и высокоскоростной шиной PCIe.
На Exynos Auto V7 возложена обязанность по управлению бортовыми информационно-развлекательными системами, в том числе теми, что появятся на грядущих моделях Volkswagen. В чип интегрированы восемь вычислительных ядер ARM Cortex-A76 и одиннадцать графических ARM Mali G76. Последние разделены на две группы: три обеспечивают работу цифровой «приборки» и проекционного дисплея с дополненной реальностью, восемь - центрального экрана и других подсистем.
Кроме того, Exynos Auto V7 оснащен нейронной сетью (помогает распознавать лица, речь и жесты) и четырьмя HiFi-аудиопроцессорами.
«Электронные мозги» могут контролировать до четырех дисплеев и 12 камер. Система обработки изображений умеет скрывать «битые» пиксели, расширять динамический диапазон, убирать геометрические искажения и снижать шум.
Также в Exynos Auto V7 есть до 32 гигабайт оперативной памяти LPDDR4x и отдельный криптопроцессор с однократно программируемой памятью и генератором ключей на основе физически неклонируемой функции. Система управления питанием основана на интегральной схеме S2VPS01. Она защищает чип от перепадов напряжения, короткого замыкания, перегрузок и перегрева.
