Электронные клоны: российские ученые нашли новый способ диагностики техники
Ученые Сибирского федерального университета (СФУ) предложили использовать "электронных клонов" для online оценки состояния техники и представили соответствующую модель нейрокомпьютерной диагностики, сообщила РИА Новости пресс-служба университета.
Когда-то для контроля над состоянием техники было достаточно простого осмотра. Сейчас эта задача перепоручена самой технике. Например, компьютерам, которые с помощью искусственных нейросетей (ИНС) способны решать целый комплекс задач по неразрушающему контролю и online диагностике.
Ученые СФУ предложили свой подход с опорой на разработку и обучение ИНС, а также моделирование контролируемого изделия на основе множества "паттернов" (тестовых примеров) реакции наблюдаемой системы - например, по изменению напряженного состояния или нагрева изделия.
"ИНС и моделирование позволяют создать электронных клонов изделия (или элемента конструкции) с чтением любой информации о состоянии контролируемого объекта в режиме online", - сообщили РИА Новости профессора Института информационных и космических технологий СФУ Владимир Кошур и Сергей Ченцов.
По их проекту, клон может быть настроен на пассивный или активный режим работы. В пассивном режиме он только отражает состояние физического объекта, не вмешиваясь в его работу, в активном - клон, "почувствовав боль", генерирует управление доступными ему параметрами физического объекта с целью "уменьшения боли" или ее устранения.
"В активном режиме работы это новая интеллектуальная система, выполняющая основные функции и стремящаяся максимально сохранить "жизнеспособность" адаптивного подстраивающегося технического устройства", - рассказал Владимир Кошур.
По его словам, настройка нейросетевых блоков ведется на принципах минимизации контролируемой ошибки выхода нейросетевой системы и принятого ответа паттерна. Особенно важно найти глобальный минимум суммарной ошибки - оптимальные параметры, которые являются наилучшими для принятой модели.
Результаты ученых СФУ были представлены на XX Международной научно-технической конференции "Нейроинформатика-2018", прошедшей в Национальным исследовательском ядерном университете "МИФИ" (Москва). На данный момент они продолжают исследовать адаптивные алгоритмы оптимизации нейросетевого управления.
